Фликкер-шумовая спектроскопия в параметризации структуры поверхности твердофазных систем в нанометровом диапазоне на основе данных атомно-силовой микроскопии : автореф. дис. на соиск. учен. степ. к. ф.-м. н. : специальность 01.04.07 <Физика конденсированного состояния>
Фликкер-шумовая спектроскопия в параметризации структуры поверхности твердофазных систем в нанометровом диапазоне на основе данных атомно-силовой микроскопии : автореф. дис. на соиск. учен. степ. к. ф.-м. н. : специальность 01.04.07 <Физика конденсированного состояния>