Исследование структурно-химических параметров тонких пленок, наностеклокерамики и многослойных нанографитов методами спектроскопии комбинационного рассеяния света : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математческих наук : специальность 01.04.05 <Оптика>

Заглавие:Исследование структурно-химических параметров тонких пленок, наностеклокерамики и многослойных нанографитов методами спектроскопии комбинационного рассеяния света : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математческих наук : специальность 01.04.05 <Оптика>

Физическое описание:19 с.

Библиотечный фонд:Российская Национальная Библиотека

Полное библиографическое описание

Доступные права:

Просмотр:

• 100% от первой страницы документа

Печать:

• Произвольный отрывок, составляющий 25% документа