Методы и средства интерферометрии высокого разрешения для обеспечения единства измерений геометрических параметров рельефа и шероховатости поверхности в нанометровом диапазоне : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук : специальность 05.11.15 <Метрология и метрологическое обеспечение>
Методы и средства интерферометрии высокого разрешения для обеспечения единства измерений геометрических параметров рельефа и шероховатости поверхности в нанометровом диапазоне : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук : специальность 05.11.15 <Метрология и метрологическое обеспечение>