На главную

Методы и средства интерферометрии высокого разрешения для обеспечения единства измерений геометрических параметров рельефа и шероховатости поверхности в нанометровом диапазоне : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук : специальность 05.11.15 <Метрология и метрологическое обеспечение>

Методы и средства интерферометрии высокого разрешения для обеспечения единства измерений геометрических параметров рельефа и шероховатости поверхности в нанометровом диапазоне : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук : специальность 05.11.15 <Метрология и метрологическое обеспечение>

35 с.

Российская Национальная Библиотека

Полное библиографическое описание

  • 100% от первой страницы документа

  • Произвольный отрывок, составляющий 25% документа
  • 100% от первой страницы документа

  • Произвольный отрывок, составляющий 50% документа

Обложка
Открыть в мобильном приложении