Развитие методов сканирующей зондовой микроскопии для исследования электрофизических свойств материалов наноэлектроники и структур на их основе : автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук : специальность 01.04.08 <Физика плазмы>

Заглавие:Развитие методов сканирующей зондовой микроскопии для исследования электрофизических свойств материалов наноэлектроники и структур на их основе : автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук : специальность 01.04.08 <Физика плазмы>

Физическое описание:23 с.

Библиотечный фонд:Российская Национальная Библиотека

Полное библиографическое описание

Доступные права:

Просмотр:

• 100% от первой страницы документа

Печать:

• Произвольный отрывок, составляющий 25% документа