На главную

Изменение электрофизических свойств системы кремний - подзатворный окисел МОП-транзисторов с поликремниевым затвором при воздействии ионизирующего излучения : автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук : специальность 05.13.05 <Элементы и устройства вычисл. техники и систем упр.>

Изменение электрофизических свойств системы кремний - подзатворный окисел МОП-транзисторов с поликремниевым затвором при воздействии ионизирующего излучения : автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук : специальность 05.13.05 <Элементы и устройства вычисл. техники и систем упр.>

15 с.

Российская Национальная Библиотека

Полное библиографическое описание

  • 100% от первой страницы документа

  • Произвольный отрывок, составляющий 25% документа
  • 100% от первой страницы документа

  • Произвольный отрывок, составляющий 50% документа

Обложка
Открыть в мобильном приложении