Изменение электрофизических свойств системы кремний - подзатворный окисел МОП-транзисторов с поликремниевым затвором при воздействии ионизирующего излучения : автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук : специальность 05.13.05 <Элементы и устройства вычисл. техники и систем упр.>

Заглавие:Изменение электрофизических свойств системы кремний - подзатворный окисел МОП-транзисторов с поликремниевым затвором при воздействии ионизирующего излучения : автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук : специальность 05.13.05 <Элементы и устройства вычисл. техники и систем упр.>

Физическое описание:15 с.

Библиотечный фонд:Российская Национальная Библиотека

Полное библиографическое описание

Доступные права:

Просмотр:

• 100% от первой страницы документа

Печать:

• Произвольный отрывок, составляющий 25% документа
• 100% от первой страницы документа

Копирование:

• Произвольный отрывок, составляющий 50% документа

Загрузка всего документа