Моделирование электронной структуры и спектральных характеристик тонких пленок по методу линеаризированных присоединенных плоских волн : Автореф. дис. на соиск. учен. степ. к.ф.-м.н. : Спец. 05.13.18
Моделирование электронной структуры и спектральных характеристик тонких пленок по методу линеаризированных присоединенных плоских волн : Автореф. дис. на соиск. учен. степ. к.ф.-м.н. : Спец. 05.13.18