Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов : автореф. дис. на соиск. учен. степ. к.ф.-м.н. : спец. 05.11.14 : спец. 05.11.13
Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов : автореф. дис. на соиск. учен. степ. к.ф.-м.н. : спец. 05.11.14 : спец. 05.11.13