Электронно-микроскопическое исследование кристаллов с сильным изгибом решетки в тонких пленках на основе халькогенидов и оксидов металлов : автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук : специальность 01.04.07 <Физика конденсир. состояния>
Электронно-микроскопическое исследование кристаллов с сильным изгибом решетки в тонких пленках на основе халькогенидов и оксидов металлов : автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук : специальность 01.04.07 <Физика конденсир. состояния>