На главную

Дефектообразование, ударная ионизация и электрическая прочность микронных слоев щелочно-галоидных кристаллов : Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д.ф.-м.н. : Спец. 01.04.07

Дефектообразование, ударная ионизация и электрическая прочность микронных слоев щелочно-галоидных кристаллов : Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д.ф.-м.н. : Спец. 01.04.07

43 с.

Российская Национальная Библиотека

Полное библиографическое описание

  • 100% от первой страницы документа

  • Произвольный отрывок, составляющий 25% документа

Обложка
Открыть в мобильном приложении