На главную

Статистический анализ и оптимизация технологии изготовления интегральных микросхем методом поверхности откликов : Автореф. дис. на соиск. учен. степ. к.т.н. : Спец. 05.27.01

Статистический анализ и оптимизация технологии изготовления интегральных микросхем методом поверхности откликов : Автореф. дис. на соиск. учен. степ. к.т.н. : Спец. 05.27.01

18 с.

Российская Национальная Библиотека

Полное библиографическое описание

  • 100% от первой страницы документа

  • Произвольный отрывок, составляющий 25% документа

  • Произвольный отрывок, составляющий 25% документа

Обложка
Открыть в мобильном приложении