Ближнепольная микроскопия локального оптического отклика поверхности SiC и полупроводниковых наноструктур на основе Si, GaAs и InP : автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра физ.-мат. наук : специальность 01.04.05 <Оптика>
Ближнепольная микроскопия локального оптического отклика поверхности SiC и полупроводниковых наноструктур на основе Si, GaAs и InP : автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра физ.-мат. наук : специальность 01.04.05 <Оптика>