Исследование локальных характеристик полупроводниковых структур методом поверхностного электронно-индуцированного потенциала в растровой электронной микроскопии : Автореф. дис. на соиск. учен. степ. к.ф.-м.н. : Спец. 01.04.04
Исследование локальных характеристик полупроводниковых структур методом поверхностного электронно-индуцированного потенциала в растровой электронной микроскопии : Автореф. дис. на соиск. учен. степ. к.ф.-м.н. : Спец. 01.04.04