Исследование перспективных фотолитографических процессов с суб-0.2 мкм проектными нормами с помощью математического моделирования : Автореф. дис. на соиск. учен. степ. к.ф.-м.н. : Спец. 05.27.01
Исследование перспективных фотолитографических процессов с суб-0.2 мкм проектными нормами с помощью математического моделирования : Автореф. дис. на соиск. учен. степ. к.ф.-м.н. : Спец. 05.27.01